論快速溫變試驗箱對IC半導(dǎo)體測試標(biāo)準(zhǔn)及參數(shù)
半導(dǎo)體測試標(biāo)準(zhǔn):
半導(dǎo)體可靠性測試主要分為環(huán)境試驗和壽命試驗兩個大項,其中環(huán)境試驗中包含了機(jī)械試驗(振動試驗、沖擊試驗、離心加速試驗、引出線抗拉強(qiáng)度試驗和引出線彎曲試驗)、引出線易焊性試驗、溫度試驗(低溫、高溫和溫度交變試驗)、濕熱試驗(恒定濕度和交變濕熱)、特殊試驗(鹽霧試驗、霉菌試驗、低氣壓試驗、靜電耐受力試驗、超高真空試驗和核輻射試驗);而壽命試驗包含了長期壽命試驗(長期儲存壽命和長期工作壽命)和加速壽命試驗(恒定應(yīng)力加速壽命、步進(jìn)應(yīng)力加速壽命和序進(jìn)應(yīng)力加速壽命),其中可以有選擇的做其中一些。
1.溫度下限工作試驗:受試樣品先加電運(yùn)行測試程序進(jìn)行初試檢測。在受試樣品不工作的條件下,將箱內(nèi)溫度逐漸降到0℃,待溫度穩(wěn)定后,加電運(yùn)行測試程序5h,受試樣品功能與操作應(yīng)正常,試驗完后,待箱溫度回到室溫,取出樣品,在正常大氣壓下恢復(fù)2h。
推薦檢驗標(biāo)準(zhǔn):受試樣品功能與操作應(yīng)正常,外觀無明顯偏差。
2.低溫儲存試驗將樣品放入低溫箱,使箱溫度降到-20℃,在受試樣品不工作的條件下存放16h,取出樣品回到室溫,再恢復(fù)2h,加電運(yùn)行測試程序進(jìn)行后檢驗,受試樣品功能與操作應(yīng)正常,外觀無明顯偏差。為防止試驗中受試樣品結(jié)霜和凝露,允許將受試樣品用聚乙稀薄膜密封后進(jìn)行試驗,必要時還可以在密封套內(nèi)裝吸潮劑。
推薦檢驗標(biāo)準(zhǔn):受試樣品功能與操作應(yīng)正常,外觀無明顯偏差。
3.溫度上限工作試驗受試樣品先進(jìn)行初試檢測。在受試樣品不工作的條件下,將箱溫度逐漸升到40℃,待溫度穩(wěn)定后,加電運(yùn)行系統(tǒng)診斷程序5h,受試樣品功能與操作應(yīng)正常,試驗完后,待箱溫度回到室溫,取出樣品,在正常大氣壓下恢復(fù)2h。
快速溫度變化試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
快速溫度變化試驗箱應(yīng)符合的標(biāo)準(zhǔn)有:
1.GB/T10589-1989高溫實驗箱技術(shù)條件,
2.GB/T10586-1989濕熱實驗箱技術(shù)條件,
3.GB/T10592-1989崎嶇溫實驗箱技術(shù)條件,
4.GB2423.1-89高溫實驗Aa,Ab ;
5.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱實驗Ca;
6.MIL-STD810D 要領(lǐng) 502.2;
7.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)要領(lǐng)507.2程序3;
8.GJB150.9-8 濕熱實驗;
9.GB2423.34-86、MIL-STD883C要領(lǐng)1004.2溫濕度組合循環(huán)實驗
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍-70℃ -- +150℃ -70℃ -- +200℃
溫度范圍-40℃--- +85℃
溫度變化5℃/min 10℃/min 15℃/min 20℃/min
濕度20--98%RH
溫度波動:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃