PCT高壓老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

 

　　用途：

　　設備目前適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗。

 

　　規范要求：

　　PCT高壓老化試驗箱內膽采用圓弧設計，復合國家安全容器標準，可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

　　配備雙層不銹鋼產品架，也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。

 

　　PCT高壓老化試驗箱的結構特點：

　　1、采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在較大程度上降低了使用故障率；

　　2、獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞；

　　3、門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點；

　　4、試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計（試驗桶內空氣排出）提高壓力穩定性；       

　　5、超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉1000小時；

　　6、水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護；

　　7、二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置；

　　8、安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕。